Upload
gilberte-clerc
View
105
Download
0
Tags:
Embed Size (px)
Citation preview
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
1
INTR
OD
UCT
ION
TESTS DE RÉSISTANCE AUX RADIATIONS A PSI
• CONTEXTE GENERAL DU SURVEY
• MANDAT DU LABO D’ÉLECTRONIQUE SURVEY
• EMPLACEMENT HARDWARE
• LES ANCIENS TESTS
• Bref aperçu.
• LES TESTS AU CNGS
• Châssis SAS.
• Les composants du SAS.
• Description des tests.
• Les resets possibles.
• QUESTIONS ?
MESURES DE PERTURBATIONS MECANIQUES
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
2
MAN
DAT
GEN
ERAL
SU
RVEY BAUSA
BMUSA
BCUSA
BMUS
BCUS
BAUS
HLS systembedplates
TAUSA
HLSBedplateSystem
Old picture
TCUSA
BAUSA
BMUSA
BCUSA
BMUS
BCUS
BAUS
HLS systembedplates
TAUSA
HLSBedplateSystem
Old picture
TCUSA
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
3
LABO
ELE
CTRO
NIQ
UE
SURV
EY
INSTRUMENTATION
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
4
AIM
ANTS
LO
WBE
TA
NOMBRE DE CAPTEURS PAR IP
33 sondes de température.
20 capteurs à fils .
12 capteurs de distances DOMS.
25 capteurs hydrostatiques
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
5
EMPL
ACEM
ENTS
HAR
DW
ARE
Emplacements :
UA’s, UJ’s, UPS, US
CAVERNE, TRIPLET
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
6
ANCI
ENS
TEST
S• POURQUOI
• Environement sévère 16 kGrays/an.
• Connaitre la tolérance de nos capteurs et électroniques (20 ans d’utilisation).
• Garantir un positionnement à +/- 0.01mm.
• Optimiser l’emplacement des capteurs et électroniques.
• Calibrer les erreurs de mesure.
• QUAND ET OÙ
•Entre 2000 et 2004 au TCC2 CERN et au CEA de Saclay.
• Doses au CERN 3 Grays/jour et 8/80 Grays/min à Saclay.
WPS & CONDI TI ONER tests 2000 f(radiations)
3
3.5
4
4.5
5
5.5
6
28.03.200000:00
17.04.200000:00
07.05.200000:00
27.05.200000:00
16.06.200000:00
06.07.200000:00
26.07.200000:00
15.08.200000:00
DATE / TIME
Vo
lts
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
XWPS
YWPS
Dose cumulée (Grays)
• RESULTATS ET CONCLUSIONS
• Electroniques des capteurs ne supporte que 5 à 10 Grays/an.
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
7
ANCI
ENS
TEST
S• RESULTATS ET CONCLUSIONS
• Capteurs résiste à > 16 kGrays/an pendant 6 ans.
• Confirmation de l’offset de mesure par ionisation de l’air.
OFFSET DUE TO Total I onising Dose FOR HLS.
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
120
130
140
150
160
0 5000 10000 15000 20000 25000 30000 35000 40000 45000 50000 55000 60000 65000 70000
TI D [Grays]
Off
set
in m
icro
ns
HLS glas generation conditioner remoted at 11[m] HLS ceramic generation conditioner remoted at 5[m] HLS new generation conditioner remoted at 5[m]
DOCUMENTS PRODUITS :
Posters pour l’IWAA 2004 et 2006 (coauteur).
Tests aux radiations EDMS 985075 et 078.
Radiation induced effects on the Hydrostatic Leveling System for the LHC experiments. (coauteur).
Radiation induced effects on the sensors of the Hydrostatic Leveling System for the LHC experiments. (coauteur).
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
8
+/- 12 Volts DC
+/- 2.56 Volts DC
+/- 12 Volts DC
16 sensors type HLS, WPS, DOMS
Or 32 inputs +/- 12 Volts DC
WorldFIPRS232
DAC
ALIM +9VLEDS
ADuC
MicroFIP
Régulation
Supervision
Reset FIP
Décodage
d’adresse
Outils de
ligne FIP
Config.
MicroFIP
+ PA/PB
35 inputs
Single ended
35 inputs
Single ended
35 inputs
Single ended
35 conv. of 20 bit in 1 sec.TEST
S CN
GS
CHÂS
SIS
SAS
CONVERTISSEUR A/N.
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
9
Successfully tested COTS in TCC2 from 1999 to 2003COMPOSANTS DU SAS
• Amplifiers– INA105, INA141, OPA27, AD210BN
• Comparators– LM311
• Timer– NE556
• Voltage regulators– MC7815, MC7915
• Voltage references– REF102, LT1236A-10
• Digital isolators– ISO150
• Thyristors– SKT80/18E
• Isolated DC-DC converters– THI0522, THI0511, TMA0505S, TMA0515D
• Micro-converters– ADuC812, ADuC831, ADuC834
• ADuC812 (4000 devices in QPS electronics) – 8 channel 12 Bit ADC + 8051 compatible core + 8k Flash EEPROM ADuC831 (2700 devices in QPS electronics)– As ADuC831 but 62k Flash EEPROM
• ADuC834 (7600 devices in QPS electronics)– 24 Bit ADC + 8051 compatible core + 62k Flash EEPROM
• Functional test of the chip– Communication during the test via serial port
• Memory access tests– ADuC812: external SRAM– ADuC831 & ADuC834: internal & external SRAM, internal Flash EEPROM
• Error correction algorithm– Bitwise triple voting for data stored in external SRAM validated
• Switches– MAX4602– IRF640, IRF 6215s
• logique– Série 74HCTxxx
COM
POSA
NTS
CH
ÂSSI
S SA
S
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
10
DES
CRIP
TIO
N T
ESTS
• CONSOMATION DES ALIMENTATIONS
• COMPORTEMENT DES CONDITIONNEURS
• SWITCHES MOS + MAXIM
• CARTE ADUC834 + FIP
• SYNCHRONISATION
• Programmes de logging et PC
• CYCLES DE 5 MINUTES
• 2 min de logging standard
• 1 min de coupure alim.
• 1 min pour 1er conditionneur
• 1 min pour 2ème conditionneur
• RESETS POSSIBLE
• Général 230 V (relais).
• Fip remote reset via un message 5V carte ADUC.
• Watchdog Chip ADUC 834 5V carte ADUC.
• I 500mA du SAS 5V carte ADUC.
Antonio Marin – BE/ABP/SU – CERN 3 Septembre 2009
PRÉSENTATION RAWG DU 3 SEPTEMBRE 2009
11
QUESTIONS ?
MERCI POUR VOTRE ATTENTION