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GM-861 Difração de raios X Sugestão de leitura: X-Ray Methods, Clive Whiston, Analytical Chemistry by Open Learning, John Wiley & Sons, 1987

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GM-861

Difração de raios X

Sugestão de leitura: X-Ray Methods, Clive Whiston, Analytical Chemistry by Open Learning, John Wiley & Sons, 1987

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Difração de raios X

A difração de raios X é uma técnica fundamental em mineralogia, pois é com ela que se pode determinar as posições atômicas dos elementos na estrutura cristalina a estrutura dos minerais.

Um uso mais corriqueiro da difração de raios X, é a identificação de minerais e de materiais cristalinos cujas estruturas já são conhecidas

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A descoberta dos raios X - 1895

Wilhelm Roentgen

(1845-1923)

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Primeiras radiografias

Radiografia da mão de Bertha, esposa de Roentgen (22/12/1895)

Rifle de Roentgen

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Raios X raios catódicosNão eram afetados por campos elétricos e magnéticos.

Podiam penetrar sólidos, com profundidades que dependem da sua densidade.

1897: J.J. Thomson mostrou que os raios catódicos eram corpúsculos com carga negativa: elétrons

Suspeitava-se que os raios X fossem ondas eletromagnéticas, mas não se conseguia observar o fenômeno da interferência, típico de ondas.

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1912- Max Van Laue sugeriu que o comprimento de onda dos raios X era muito pequeno para poder provocar fenômenos de difração em fendas ou grades usadas para a luz visível.

A alternativa seria usar cristais que tem planos regulares, próximos entre si

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Padrão de difração da vesuvianita

Ca10Mg2Al4(Si2O7)2(SiO4)5(OH)4 ,

obtido num filme (negativo) fotográfico. Os pontos representam camadas ou planos da estrutura cristalina. O espaçamento entre os pontos é proporcional ao espaçamento entre os planos do cristal.

Qual a simetria que é possível reconhecer nesta imagem?

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Espalhamento de ondas de raios X

Onda incidente

Frente de onda esférica

Onda espalhada

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Duas fontes pontuais interferem construtivamente na direção das setas

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O espalhamento raios X por uma família de planos de um cristal

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água

ânodo

janela de Be

raios X

Produção de raios X num tubo

filamento de W

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Elétrons incidentes

fotoelétron

Produção de raios X característicos

núcleo

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Emissão de raios X – linhas K

ounúcleo

raio X

raio X

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Espectro de raios X de um metalIn

ten

sid

ade

energia

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Espectro de raios X de um metalIn

ten

sid

ade

energia

K= K1+ K2

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ABSORÇÃO RAIOS X

I= I0e-x

 

I= intensidade transmitida

I0= intensidade incidente

= coeficiente de absorção linear

x= espessura

sólido >líquido>gás

I= I0e-

m x

m = coeficiente de absorção de massa ou de atenuação

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Linha K do Cu após passar por filtro de Ni

Inte

nsi

dade

energia

K= K1+ K2

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Comprimento de onda dos raios X: 0,1-100 Å

Cristalografia de raios X : = 1-3 Å

metal K (Å)

Cr 2,29100

Fe 1,937355

Co 1,790260

Cu 1,541838

Mo 0,710730

de tubos de raios X comuns

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Orientação do cristal

Raios X

Det

etor

de

raio

s X

Feixe difratadocristal

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Exemplo de difratômetro de raios X

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Exemplos de preparação de amostra

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Estruturas cristalinas de SiO2

vidro de SiO2

cristobalita (alta)

cristobalita (baixa)

quartzo

quartzo

quartzo quartzo

cristobalita (alta) cristobalita

(baixa)

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Identificação de minerais

Os três picos mais intensos são utilizados para iniciar o procedimento de identificação, na sua ordem de intensidade, comparando-os com dados dos arquivos PDF (powder difraction file do ICDD, International Centre for Diffraction Data, www.icdd.com). Se elas coincidirem com uma substância, as posições e intensidades dos demais picos são comparadas com as do arquivo.

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Exercício 1:completar a tabela com o difratograma fornecido

No. da linha 2 (graus) d (Å) Altura do

pico (mm)I/Il

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Difratometria de raios X

• Análises simples, em amostras pequenas; método não

destrutivo

• Identificar fases presentes (>5%), incluindo polimorfos

• Não se aplica a compostos amorfos ou ausentes no PDF

• Sobreposições de picos dificultam a identificação

• Contaminantes (soluções sólidas) deslocam os picos das

suas posições normais

• Orientação preferencial ou com ordem/desordem