www.yildirimelektronik.comB15

Y-0016-DIG Dijital Devreler Uygulama ModülleriDigital Circuits Application Modules

Sistem Sunumu

Uyumlu Ana Üniteler

Uygulama Modülleri : 11 Adet2mm Jaklı Kablo : 24 Adet, 4 Farklı renkteDeney Kitabı : 1 Adet

• Y-0016• Y-0039

Set Content

Compatible Main Units

Application Modules : 11 Pcs2mm Connection Leads : 24 Pcs, in 4 different colorsExperiment Book : 1 Pcs

• Y-0016• Y-0039

Dijital Devreler Uygulama Modülleri, diijital devre uygulamaları için tasarlanmış olup 11 adet uygulama modülünden oluşmaktadır.

Deney kitabında temel mantık kapılarından, analog dijital çevrimlere kadar birçok uygulama şekillerle ayrıntılı olarak anlatılmıştır. Deney kitabı içerisinde konu teo risi, uygulama alanları, eleman tanımları, devre şemaları ve grafiklerle desteklenmiş “Hazırlık bilgileri”, ayrıntılı olarak anlatılan “Deneyin yapılışı”, deneyle ilgili soruların ve deney sonuçlarının verildiği “Sonuçlar” bölümleri bulunmaktadır.

Dijital Devreler Uygulama Modülleri ara bağlantıları için 2mm soket ve farklı renklerde 2mm fişli kablolar kullanılmıştır.

Digital Circuits Application Modules are designed for digital circuit applications and consists of 11 application modules.

Various applications from basic logic gates up to analog-digital convertors are explained with detailed in the experiment Book. Experiment book contains the chapters of “Preparation information” supported with circuit diagrams and graphics, ”How to do the expe riment” with detailed explanation and ”conclusion” where the results and the questions regarding to the experiment are included.

2 mm sockets and 2 mm connection leads in different colors are used with the Digital Circuits Application Modules.

Genel Özellikler General Specifications

www.yildirimelektronik.com B16

Y-0016-DIG Dijital Devreler Uygulama ModülleriDigital Circuits Application Modules

Uygulama Konuları / Applications

Experiment Module -1

• Obtaining the truth table of AND Gate• Obtaining the truth table of 3 - Input AND Gate• Obtaining the truth table of NAND Gate• Using NAND Gate as an INVERTER• Generating 3 - Input NAND Gate using 2- Input NAND Gates• Obtaining the truth table of INVERTER Gate• Converting AND Gate into OR Gate by using INVERTER• Converting OR Gate into AND Gate by using INVERTER• Obtaining the truth table of OR Gate• Obtaining the truth table of 3 - Input OR Gate• Obtaining the truth table of NOR Gate• Using NOR Gate as an INVERTER• Obtaining 3 - Input NOR Gate using 2 - Input NOR Gates• Obtaining the truth table of EXCLUSIVE-OR Gate• Obtaining the truth table of EXCLUSIVE-NOR Gate

Experiment Module - 2

• Examination of COMMUTATIVE Law (OR GATE )• Examination of COMMUTATIVE Law (AND GATE)• Examination of ASSOCIATIVE Law (OR GATE ) (2 Experiments)• Examination of ASSOCIATIVE Law (AND GATE) (2 Experiments)• Examination of DISTRIBUTIVE Law (4 Experiments)• Examination of IDEMPOTENCY Law• Examination of AND GATE Law• Examination of OR GATE Law• Examination of COMPLEMENT Law• Examination of INVOLUTION Law• Examination of ABSORPTION Law• Examination of DE MORGAN’S Law (2 Experiments)

Deney Modülü - 1

• AND (VE) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• 3 Girişli AND (VE) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• NAND (VE - DEĞİL) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• NAND (VE - DEĞİL) kapısının INVERTER olarak kullanılması• 2 Girişli NAND kapılarıyla 3 girişli NAND kapısı oluşturmak• INVERTER kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• INVERTER kullanılarak AND kapısının OR kapısına çevrilmesi• INVERTER kullanılarak OR kapısının AND kapısına çevrilmesi• OR (VEYA) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• 3 Girişli OR (VEYA) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• NOR (VEYA - DEĞİL) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• NOR (VEYA - DEĞİL) kapısının INVERTER olarak kullanılması• 2 Girişli NOR kapılarıyla 3 girişli NOR kapısı oluşturmak• EXCLUSIVE-OR (ÖZEL VEYA) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması• EXCLUSIVE-NOR (ÖZEL VEYA - DEĞİL) kapısının doğruluk tablosunun çıkarılması

Deney Modülü - 2

• DEĞİŞİM kuralının incelenmesi (VEYA Kapısı)• DEĞİŞİM kuralının incelenmesi (VE Kapısı)• BİRLEŞME kuralının incelenmesi (VEYA Kapısı) (2 Deney)• BİRLEŞME kuralının incelenmesi (VE Kapısı) (2 Deney)• DAĞILMA kuralının incelenmesi (4 Deney)• ÖZDEŞLİK kuralının incelenmesi• AND (VE Kapısı) kuralının incelenmesi• OR (VEYA Kapısı) kuralının incelenmesi• TAMAMLAYICI kuralının incelenmesi• ÇİFT TERSLEME kuralının incelenmesi• YUTMA kuralının incelenmesi• DE MORGAN kuralının incelenmesi (2 Deney)

www.yildirimelektronik.comB17

Y-0016-DIG Dijital Devreler Uygulama ModülleriDigital Circuits Application Modules

Uygulama Konuları / Applications

Experiment Module - 3

• R-S FLIP FLOP with NOR Gates• R-S FLIP FLOP with NAND Gates• R-S FLIP FLOP with clock• Obtaining the truth table of J-K FLIP FLOP• Obtaining the truth table of D FLIP FLOP• Obtaining the D FLIP FLOP using J-K FLIP FLOP• Obtaining the truth table of T FLIP FLOP

Experiment Module - 4

• BINARY COUNTER application• Using BINARY COUNTER as BCD COUNTER• Examination of 7 bit BINARY COUNTER• Examination of Asynchronous up-counters composed of JK FLIP FLOP• Examination of Asynchronous down-counters composed of JK FLIP FLOP• Determining counting limits of Asynchronous counters

Experiment Module - 5

• Examination of HALF ADDER• Examination of FULL ADDER• Examination of HALF-SUBTRACTORS• Examination of FULL-SUBTRACTORS

Experiment Module - 6

• Shift registers composed of FLIP FLOP experiment• Serial - Parallel SHIFT REGISTERS experiment• Right SHIFT REGISTERS experiment• Left SHIFT REGISTERS experiment• Parallel input - Parallel output SHIFT REGISTERS experiment

Deney Modülü - 3

• NOR (VEYA - DEĞİL) kapılarından oluşan R-S FLİP FLOP• NAND (VE - DEĞİL) kapılarından oluşan R-S FLİP FLOP• Saatli R-S FLİP FLOP• J-K tipi FLİP FLOP ‘un doğruluk tablosunun çıkarılması• D tipi FLİP FLOP ‘un doğruluk tablosunun çıkarılması• J-K tipi FLİP FLOP ile D tipi FLİP FLOP oluşturulması• T tipi FLİP FLOP ‘un doğruluk tablosunun çıkarılması

Deney Modülü - 4

• BINARY COUNTER uygulaması• BINARY COUNTER ‘un BCD COUNTER olarak kullanılması• 7 BIT BINARY COUNTER ‘un incelenmesi• JK FLIP FLOP ‘larla yapılmış yukarı Asenkron sayıcının incelenmesi• JK FLIP FLOP ‘larla yapılmış aşağı Asenkron sayıcının incelenmesi• Asenkron sayıcının sayma aralığının belirlenmesi

Deney Modülü - 5

• Yarım Toplayıcının (HALF ADDER) incelenmesi• Tam Toplayıcının (FULL ADDER) incelenmesi• Yarım Çıkarıcının (HALF SUBTRACTORS) incelenmesi• Tam Çıkarıcının (FULL SUBTRACTORS) incelenmesi

Deney Modülü - 6

• FLIP FLOP ‘larla yapılan bilgi kaydırıcı deneyi• Seri - Paralel bilgi kaydırıcı (S-P SHIFT REGISTERS) deneyi• Sağa bilgi kaydırma (R SHIFT REGISTERS) deneyi• Sola bilgi kaydırma (L SHIFT REGISTERS) deneyi• Paralel giriş - Paralel çıkışlı SHIFT REGISTER (PI-PO SHIFT REGISTERS) deneyi

www.yildirimelektronik.com B18

Y-0016-DIG Dijital Devreler Uygulama ModülleriDigital Circuits Application Modules

Uygulama Konuları / Applications

Experiment Module - 7

• Examination of 6116 RAM Integrated circuit• Examination of addressing 2816 EEPROM Integrated circuit

Experiment Module - 8

• Sliding letters experiment by using character generators and dot matrix• Examination of character generators and dot matrix

Experiment Module - 9

• Examination of 8x1 MULTIPLEXER• Examination of 1x8 DE-MULTIPLEXER (DEMUX)• DATA Transfer MUX-DEMUX combination experiment

Experiment Module - 10

• Analog - Digital converters experiment ADC• Digital - Analog converters Experiment DAC• Examination of DATA transmission with A/D - D/A convertors

Experiment Module - 11

• Examination of 555 Integrated circuit as ASTABLE multivibrator• Examination of 555 Integrated circuit as MONOSTABLE multivibrator• Examination of 555 Integrated circuit as BISTABLE multivibrator

Deney Modülü - 7

• 6116 RAM Entegresinin incelenmesi• 2816 EEPROM Entegresinin adreslenmesinin incelenmesi

Deney Modülü - 8

• Karakter jeneratörleri ve nokta matrisi ile kayan karakterler deneyi• Nokta matris ile kayan karakterlerin oluşturulması deneyi

Deney Modülü - 9

• 8 x 1 MULTIPLEXER deneyinin incelenmesi• 1 x 8 DE - MULTIPLEXER deneyi• Bilgi (DATA) iletimi (MUX-DEMUX kombinasyonu) deneyi

Deney Modülü - 10

• Analog - Dijital çeviriciler ADC deneyi• Dijital - Analog çeviriciler DAC deneyi• A/D - D/A çevirici ile DATA iletiminin incelenmesi

Deney Modülü - 11

• 555 Entegresinin ASTABLE (Karasız) multivibratör olarak çalışmasının incelenmesi• 555 Entegresinin MONOSTABLE (Tek Kararlı) multivibratör olarak çalışmasının incelenmesi• 555 Entegresinin BİSTABLE (Çift Kararlı) multivibratör olarak çalışmasının incelenmesi