27
TSL studies for the engineering of optical materials Anna Vedda Department of Materials Science University of MilanoBicocca Success Meeting 2012 – Lyon

TSL studies for the engineering of optical materials · Main investigation fields: 1.Optical properties of rare earth ions in silica and silica based glass‐ceramics with crystalline

  • Upload
    others

  • View
    0

  • Download
    0

Embed Size (px)

Citation preview

  • TSL studies for the engineering of optical materials

    Anna Vedda 

    Department of Materials Science University of Milano‐Bicocca

    Success Meeting 2012 – Lyon

  • Main investigation fields:

    1.Optical properties of rare earth  ions  in silica and silica based glass‐ceramics with crystalline nano‐phases, to obtain materials suitable to be used as scintillators in the detection  of  ionizing  radiations  and  looking  at  the  optical  properties  useful  in photonics

    2.Crystalline scintillators, such as tungstates, rare earth–doped perovskites, garnets and complex fluorides

    3.Micro‐and nano structured luminescent materials  (SrHfO3 , Lu4Hf3O12 , HfO2)

    RESEARCH GROUP:  Inorganic materials for sensing and photonics 

    Composition3 permanent staff members: N. Chiodini, A. Paleari, A. Vedda

    3 post‐doc,  1PhD student, 2 undergraduates

  • Experimental facilities:

    Synthesis laboratoryInorganic chemistry laboratory for sol‐gel preparations. Film deposition by spin‐coating. Furnaces for densification processes,  instrumentation for optical finishing.

    Physical characterization laboratory: optical absorptionphoto‐ thermo‐ and radio‐luminescence spectroscopy (10‐800 K)micro‐Raman scatteringrefractive index measurementprofilometrycomplex impedance spectroscopyFTIR absorptionICP‐Mass with laser ablationXRF

    Within collaborations:SEM, TEM, XRD

  • The effect of Ga3+ dopingon the band structure

    of Lu3GaxAl5-xO12 garnets

  • Outline

    • Experimental data– UV‐Vis Absorption spectra– VUV Excitation spectra– TSL (initial rise technique)

    • DFT calculations (VASP code)   (Los Alamos)

    Band gap

    C.B. and V.B.

  • Lu3GaxAl5-xO12 Crystals

    • Lu3GaxAl5-xO12 (LuGAG) single crystals grown by micro pulling down (m-PD) technique at the University of Sendai (Japan)

    • Crystals size: 6 x 4 x 1 mm3 approximately

    LuGAG:CeCe: 0.7 mol% (in the melt)Ga: 0%, 10%, 20% and 40%

    LuGAG:EuEu: 0.1 mol% (in the melt)Ga: 0%, 20%, 60% ,100%

  • Band Gap shrinkingGa substitution induces a band gap shrinking  as evidence by a low energy shift of the absorption edge in UV‐VIS absorption and inVUV‐PLE measurements. 

    1 2 3 4 5 6

    LuGAG:Eu

    Ga 0%Ga 20%Ga 60%Ga 100%

    0

    20

    40

    60

    80

    100

    120

    Abs

    orp

    tion

    coef

    ficie

    nt (c

    m-1

    )

    Energy (eV)

    Eu3+ CT

    Band edge

    6.2 6.4 6.6 6.8 7 7.2 7.4

    0

    0.2

    0.4

    0.6

    0.8

    1

    1.2

    1.4

    Nor

    ma

    lized

    PLE

    am

    plit

    ude

    Energy (eV)

    LuGAG:CeGa 60%

    LuGAG:CeGa 40%

    LuGAG:CeGa 20%

    LuGAG:CeGa 10%

    LuGAG:PrGa 5%

    LuGAG:CeGa 0%

    Em. 248-310 nmat 8-10 K

    Abs spectra PLE (at DESY)

  • Band Gap shrinking

    • The band gap reduction was evaluated by combining PLE and Abs data.

    • In LuGG (with 100% of Ga) the band gap is 1.6 eV smaller than in LuAG with no Ga content

    0 20 40 60 80 100-2

    -1.5

    -1

    -0.5

    0

    0.5

    Band

    gap

    shift

    (eV

    )

    Ga concentration (%)

    From PLE spectra (Desy)

    From Abs spectra

  • TSL mechanism (Ce, Eu)Ce3+ + h→ Ce4+

    Ce4+ + e→ (Ce3+)* → Ce3+ + hν

    Eu3+ + e→ Eu2+

    Eu2+ + h→ (Eu3+)* → Eu3+ + hν

    e trap

    C.B.

    V.B.

    (Ce3+)*

    Ce3+ h trap

    C.B.

    (Eu3+)*

    Eu3+

    V.B.

    Irradiation

    Heating

    Released from an e trap Released from a h trap

    TSL (initial rise technique) allows the evaluation of the thermal activation energy E of the e traps (in Ce‐doped LuGAG) and andh traps (in Eu –doped LuGAG)

    ET

    ET

  • Working assumption• We assume the e and h traps as fixed.• A change in the TSL thermal activation energy of an e trap (h trap) can thus be an approximate evaluation of the C.B. (V.B.) shift.

    C.B.

    V.B.

    C.B.

    V.B.

    e trap

    h trap

    e trap

    h trap

    But let’s not forget that:

    • The C.B. and V.B. are not flat.• The thermal activation energy is not directly comparable with the optical transition energy.

    • The traps themselves could be affected by Ga substitution.

    no Ga with Ga

  • TSL glow curves Ga substitution induces a low temperature shift of the TSL peaks in both Ce‐ and Eu‐doped LuGAG samples.

    100 200 300 400

    Nor

    mal

    ized

    TSL

    ampl

    itud

    e

    Temperature (°C)

    Ga 0%

    Ga 10%

    Ga 20%100 200 300 400

    Nor

    mal

    ized

    TSL

    ampl

    itud

    e

    Temperature (°C)

    Ga 0%

    Ga 60%

    Ga 20%

    Ga 100%

    LuGAG:Ce LuGAG:Eu

  • Wavelength resolved TSL

    LuGAG:Ce LuGAG:Eu

    The dopant trivalent ion (Ce3+, Eu3+) is the recombination  centre for all of the observed TSL peaks with the exception of the 450 °C peak in LuGAG:Eu.

  • Initial rise technique

    101

    102

    103

    104

    105

    106

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:CeGa 0% T

    SL a

    mpl

    itud

    e (a

    rb. u

    nits

    )

    Temperature (°C)

    A

    BC D

    EF ?

    101

    102

    103

    104

    105

    106

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:CeGa 10%TS

    L am

    plitu

    de

    (arb

    . uni

    ts)

    Temperature (°C)

    A

    B

    C DE

    101

    102

    103

    104

    105

    106

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:CeGa 20%TS

    L am

    plitu

    de

    (arb

    . uni

    ts)

    Temperature (°C)

    B C

    D

    E

    • Several TSL peaks can be identified in the glow curves.

    • The thermal activation energies of the TSL peaks was evaluated by means of the initial rise technique

  • C.B. Shift - LuGAG:Ce

    -0.4

    -0.3

    -0.2

    -0.1

    0

    0.1

    0.2

    0 10 20

    Peak APeak BPeak CPeak DPeak F

    Ener

    gy sh

    ift (e

    V)

    Ga concentration (%)

    0.6

    0.8

    1

    1.2

    1.4

    1.6

    1.8

    2

    0 10 20

    Ener

    gy (e

    V)

    Ga concentration (%)

    Peak A

    Peak B

    Peak C

    Peak D

    Peak E

    Thermal activation energy Energy Shift

    The thermal activation energy af all the TSL peaks shifts of approximately the same amount suggesting that our assumption that the traps are fixed is a good approximation.

  • 101

    102

    103

    104

    105

    106

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:EuGa 0%T

    SL a

    mpl

    itud

    e (a

    rb. u

    nits

    )

    Temperature (°C)

    A B CD

    E

    F

    101

    102

    103

    104

    105

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:EuGa 20%

    TSL

    ampl

    itud

    e (a

    rb. u

    nits

    )

    Temperature (°C)

    AC

    D

    E

    F

    101

    102

    103

    104

    105

    106

    107

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:EuGa 60%

    TSL

    ampl

    itud

    e (a

    rb. u

    nits

    )

    Temperature (°C)

    AC

    D

    E

    101

    102

    103

    104

    105

    0 100 200 300 400 500

    LuGAG:EuGa 100%

    TSL

    ampl

    itud

    e (a

    rb. u

    nits

    )

    Temperature (°C)

    D

    E

  • 0.8

    1

    1.2

    1.4

    1.6

    1.8

    0 20 40 60 80 100

    Ener

    gy (e

    V)

    Ga concentration (%)

    Peak D

    Peak C

    Peak B

    Peak A-0.2

    0

    0.2

    0.4

    0.6

    0.8

    0 20 40 60 80 100

    Peak APeak CPeak D

    Ener

    gy sh

    ift (e

    V)

    Ga concentration (%)

    Thermal activation energy Energy Shift

    V.B. Shift - LuGAG:Eu• The thermal activation energy shift of the h‐traps looks slightly more dispersed.• The trap related to the most intense  TSL peak (D) shifts up to about 0.7 eV.

  • 4 4.5 5 5.5 6

    LuGAG:Eu 0.1%Em = 592 nm

    Nor

    mal

    ized

    Inte

    nsity

    Energy (eV)

    Ga 100% Ga 60%Ga 20%

    Ga 0%

    Charge transfer band (CT)

    C.B.

    V.B.

    CT transition

    Eu2+

    • The CT band allows the monitoring of the V.B. shift independent from TSL data. 

  • CT band vs. TSL

    CT band shift is consistent with the V.B. shift evidenced by TSL data of peak D.

    -0.2

    0

    0.2

    0.4

    0.6

    0.8

    0 20 40 60 80 100

    Peak APeak CPeak DCT - Band

    Ener

    gy sh

    ift (e

    V)

    Ga concentration (%)

  • 0 20 40 60 80 100

    DFTAbs and PLE

    -2

    -1.5

    -1

    -0.5

    0

    0.5

    Band

    gap

    shrin

    king

    (eV

    )

    Ga concentration (%)

    • DFT calculations, as expected, underestimate tha band gap value (3.85 eV).

    • The band gap shrinking is nevertheless reliable and in good agreement with the experimental data obtained from Absorption and photoluminescence excitation spectra.

    DFT vs Exper. - Band Gap

  • CB shift DFT vs Experiment

    0 20 40 60 80 100

    DFTExperim. (TSL)

    -1.5

    -1

    -0.5

    0

    0.5

    CB

    shift

    (eV

    )

    Ga concentration (%)

    • DFT calculations and TSL data are in agreement on the C.B. shift.

  • VB shift DFT vs Experiment

    • DFT calculations and TSL data on the V.B. shift  are  slightly less consistent.

    • DFT predicts a lower band shift than observed.

    0 20 40 60 80 100

    VB shift TEOVB shift TSLVB shift CT

    -0.2

    0

    0.2

    0.4

    0.6

    0.8

    VB

    shift

    (eV

    )

    Ga concentration (%)

  • Conclusions• Experimental data (Abs and PLE) evidence that Ga substitution 

    in LuGAG induces a band gap shrinking of approximately 1.6 eV.

    • TSL analyses (initial rise technique) show that the band gap shrinking is due to a shift of both the C.B. and V.B.

    • Ab intio DFT calculations (VASP code) predict similar results showing a good quantitative agreement with the experimental data.

    M. Fasoli, A. Vedda, M. Nikl, C. Jiang, B.P. Uberuaga, D.A. Andersson, K.J. McClellan, and C.R.Stanek,“Band‐gap engineering  for  removing shallow  traps  in  rare‐earth Lu3Al5O12 garnet scintillators using Ga3+ doping”, Phys. Rev. B 84, 081102(R) (2011).

  • Evaluation of the lanthanide excited state thermal ionization barrier in luminescent materials

  • Thermal ionizationof the luminescent center

    • When the excited level of the luminescence center is close enough to the conduction band, thermal ionization can occur.

    • Under photo excitation of the luminescence center the  electron can escape  from the excited level to the conduction band and, possibly, get  trapped  in localized defects.

    • The thermal ionization energy barrier Eth can be evaluated by exploiting trapping states.

    CB

    VB

    Pr3+

    TrapThermal 

    ionization

    Photo excitation

    Lu2Si2O7:Pr   (LPS:Pr)

    1. Thermally Stimulated Luminescence (TSL)

    2. Delayed Recombination Temperature Dependence (DRTD)

    Eth

  • Exploiting stable TSL peaks• If  we excite, at a given temperature,  

    Pr3+ in the 4f‐5d1 absorption band, the fraction of electrons thermally promoted to the CB is:

    • The fraction of ionized electrons trapped in a stable defect can be evaluated from the TSL glow curve.

    • By plotting the TSL peak intensity as a function of the illumination temperature the value of the thermal ionization barrier Eth can be evaluated.

    • If no TSL peak is stable in a convenient temperature range we are forced to deal with unstable traps.

    TkE

    b

    th

    e−

    LPS:Pr

    Excitation: 240 nm (5 nm b.p.)Temperature range: 283‐353 K

    Delayed recombination

  • TSL glow curves of LPS:0.5mol%Pr afterlight illumination (240 nm, 630 μW/cm2) at different temperatures. The arrow indicates temperature increasing.

    Arrhenius plot of the integrals obtainedfrom the glow curves of Fig. 1 from 430 and 490 K after subtractingthe background signal.

    Results

  • ConclusionsThe  method can be applied also on powder materials and thin films.

    It exploits the TSL glow curves to evaluate  the fraction of electrons thermally ionized.

    ‐ Needs a stable TSL peak ‐ Fast and simple‐ No correction required for the dependence of quantum efficiency of the  recombination center upon temperature

    M. Fasoli, A. Vedda, E. Mihokova, and M. Nikl, “Optical methods for the evaluation of lanthanide excited state thermal ionization barrier in luminescent materials”, Phys. Rev. B 85, 085127 (2012).

    The effect of Ga3+ doping�on the band structure�of Lu3GaxAl5-xO12 garnetsOutlineLu3GaxAl5-xO12 CrystalsBand Gap shrinkingBand Gap shrinkingTSL mechanism (Ce, Eu)Working assumptionTSL glow curves Wavelength resolved TSLInitial rise techniqueC.B. Shift - LuGAG:CeConclusionsEvaluation of the lanthanide excited state thermal ionization barrier in luminescent materialsThermal ionization� of the luminescent center