40
Tema 2: Dispositivos de conmutación 1. Características ideales 2. Diodos 3. Transistores (MOSFET) 4. Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT) 5. Controladores (Drivers) de interruptor 6. Control de la temperatura y radiadores 1

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Tema 2: Dispositivos de conmutación

1. Características ideales

2. Diodos

3. Transistores (MOSFET)

4. Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT)

5. Controladores (Drivers) de interruptor

6. Control de la temperatura y radiadores

1

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1. Características ideales:

• Bloquear tensión elevada en cualquier polaridad con flujo de corriente 0 en posición off.• Conducir corrientes elevadas con caída de potencial nula en posición on.• Conmutar de on a off instantáneamente al aplicar la señal de control correspondiente.• Requerir poca potencia de la fuente de control para realizar la conmutación.

2 Diodos

Requerir poca potencia de la fuente de control para realizar la conmutación.

2. Diodos

Tipos

• Diodos de línea: para rectificar la señal de la red, a baja frecuencia. Elevadas tensiones de ruptura y corriente. Lentos al conmutar. Tensión on no muy alta.

• Diodos de conmutación (switching / fast recovery): Alta velocidad de conmutación, normalmente a costa de una mayor R interna (mayor tensión on)mayor R interna (mayor tensión on).

• Diodos Schottky: Unión metal-semiconductor. Tensión on baja, conmutación rápida, tensión de ruptura relativamente baja.

2

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2. Diodos DonDDDS RIIVP 2Consumo estático

3

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2. Diodos

Transitorio on off

G. W. Neudeck.El diodo PN de uniónAddison-Wesley

(Cambio de VFORWARD a VREVERSE)

tsDurante el estado on se inyectan minoritarios.yAl pasar a off, el diodo sigue conduciendo hasta que se elimina la población de minoritarios, como consecuencia de la corriente IR y de la recombinación.

Unión p+-n:

FIL 1

tr

R

Fps ILnt 1

Tiempo necesario para que se cree la zona de carga espacial en inversa.Relacionado con la capacidad de la zona de carga espacial (CJO).

4

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2. Diodos

Transitorio on off

G W NeudeckG. W. Neudeck.El diodo PN de uniónAddison-Wesley

5

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2. Diodos

Transitorio on off LabPspice: Diodeswitching.opj

100 W

Vpp = 18 Vfs = 10 kHz

CH1

CH2

TT relacionado con

50 1n4002

Figura. 1. Montaje para visualizar transitorios

Generador de funcionesMATH = CH1-CH2

10V

TT = 0.5u, 1u, 2u

del diodo.

0V

SEL>>

200mAV(Vin) V(D2:1)

-10V

0s 1 0 s 2 0 s 3 0 s 4 0 s 5 0 s 6 0 s-200mA

0A

6

Time

0s 1.0us 2.0us 3.0us 4.0us 5.0us 6.0usI(D2)

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2. Diodos

Transitorio on off Pspice

CJO = 50p, 500p, 5n

10V

0V

100mAV(Vin) V(D2:1)

-10V

-0mA

2.0us 2.5us 3.0us 3.5us 4.0us 4.5us 5.0us 5.5us 6.0us-200mA

-100mA

SEL>>

7

Time

2.0us 2.5us 3.0us 3.5us 4.0us 4.5us 5.0us 5.5us 6.0usI(D2)

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2. Diodos

Transitorio on off Pspice

IF = 50m, 100m, 200m

5V

-5V

0V

200mAV(D2:1)

-10V

0A

2.0us 2.5us 3.0us 3.5us 4.0us 4.5us 5.0us 5.5us 6.0usI(D2)

-200mASEL>>

8

TimeI(D2)

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2. Diodos

Transitorio on off Pspice

Irev = 50m, 100m, 200m

10V

10V

0V

200mAV(D2:1)

-20V

-10V

SEL>>

0A

200mA

-400mA

-200mA

9 Time

2.0us 2.5us 3.0us 3.5us 4.0us 4.5us 5.0us 5.5us 6.0usI(D2)

400mA

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2. Diodos

Transitorio off on(aplicando IF fija)Fase 1: Reducción de la anchura de la zona de carga espacial.Fase 2: Almacenamiento de la carga de mayoritarios

G. W. Neudeck.El diodo PN de uniónAddison-Wesley

10

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2. Diodos

Transitorio en función de di/dt

VFP Sobretensión: Modulación de la R de la zona drift y existencia de L parásita

11

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2. Diodos

Transitorio (Hoja de datos 1n4148)

12

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2. Diodos

13

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3. Transistores (MOSFET)

14

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3. Transistores (MOSFET)

15

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3. Transistores (MOSFET)

Consumo estáticoV 2

DSTGSDS

DSTGSD VVVkVVVVkI

2

DSDSonD VGI DDSonDS IRV

2.0A( )

F d i t

100.00ms 100.02ms 100.04ms 100.06msI(M1 d)

0A

1.0A Forma onda corriente en el transistor

TimeI(M1:d)

DSonDDDSS RtItItVtP 2

DSononDCDSononAC

onDCT

SS

SS RDIRI

IDdttPT

tPPS

2,

2,2

, 3)(1

2,,

,onMINonMAX

onDCii

I

iii22

,,,,

onMINonMAXonDonAC

iiiI

16

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3. Transistores (MOSFET)

17

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Turn‐on Characteristics 3. Transistores (MOSFET)

i

GSvGGv

DDi

( )oGS Ivvi

GSvGGv

DDi

( )oGS Ivv

DiD

DSv

Di

oIon

A

0t

inV DSvV

G

S0

GGv BDSv ( )GS thv

Di

oIon

A

0t

inV DSvV

G

S0

GGv BDSv ( )GS thv

0

GGV

DiS

G DSv

DSvoff

A

0 0t

oIDiin

( )d ont rit fvtoI

inV

inV DSvoff

A

0 0t

oIDiin

( )d ont rit fvtoI

inV

inV

inV

0I

inin

diode o D D oi I i i I

18

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Turn-off Characteristic 3. Transistores (MOSFET)

G

DDiDi

GSvGGv( )oGS Iv( )GS thv

DSvG

DDiDi

GSvGGv( )oGS Iv( )GS thv

DSv

inV

GS

0GGv

oIon

D

C 0 t

I inV

DSv

inV

GS

0GGv

oIon

D

C 0 t

I inV

DSv

oI

DSvoff

0 0t

oIDi

DSv

( )d offt rvt fitinVoI

DSvoff

0 0t

oIDi

DSv

( )d offt rvt fitinV

19

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3. Transistores (MOSFET)

Transitorio (Lab)50 W

IRF530

Vpp = 5 VVDC = 2.5 Vfs = 100 kHz

1n5822

50 Vin = 10 V

20

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3. Transistores (MOSFET)

Transitorio (Pspice: Ejemplotiempos.opj)

21

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3. Transistores (MOSFET)

Transitorio (Pspice: Ejemplotiempos.opj)

10V

5V

V(V + V ) V(M1 ) V(M1 )0V

40V1

10A2

V(Vc:+,Vc:-) V(M1:g)- V(M1:s)

20V 5A

0s 0.5us 1.0us 1.5us1 V(M1:d)- V(M1:s) 2 ID(M1)

0V 0ASEL>>SEL>>

22

Time

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3. Transistores (MOSFET)

Transitorio (Pspice: Ejemplotiempos.opj) Turn on

10V

5V

V(Vc:+,Vc:-) V(M1:g)- V(M1:s)0V

40V1

10A2

20V 5A

tdon=16.5ns

tri=7.1ns

tfv=4.9ns

Time

0.98us 1.00us 1.02us 1.04us1 V(M1:d)- V(M1:s) 2 ID(M1)

0V 0ASEL>>SEL>>

23

Time

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3. Transistores (MOSFET)

Transitorio (Pspice: Ejemplotiempos.opj) Turn off

10V

5V

V(Vc:+,Vc:-) V(M1:g)- V(M1:s)0V

SEL>>

40V1

10A2

20V 5A

tdoff=42.6ns

trv=7.0ns

tfi=13.2ns

Time

480ns 500ns 520ns 540ns 560ns 580ns 600ns1 V(M1:d)- V(M1:s) 2 ID(M1)

0V 0A >>

Time

24

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Calculating Power Losses Within the MOSFET (assuming an ideal diode)

3. Transistores (MOSFET)

oI DSv

i

inVDSv

inV

ioI DSv

i

inVDSv

inV

i

0trit fvt

Di

rvt fit

Di

0trit fvt

Di

rvt fit

Di

,c offt,c ont

p in oV I in oV Ip

,c offt,c ont

p in oV I in oV Ip

(IMIN) (IMAX)

,c ont0t,c offt

swp swp

,c ont0t,c offt

swp swp

1 ,c on ri fvt t t Switching Losses: , ,

1 ( )2sw in o c on c off sP V I t t f

,c on ri fv

,c off rv fit t t

1

25

offcMAXoncMINsinsw tItIfVP ,,21

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4. IGBT

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4. IGBT

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4. IGBT

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4. IGBT

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4. IGBT

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5. Drivers de interruptorReferencia: Design And Application Guide For High Speed MOSFET Gate Drive Circuits By Laszlo BaloghMOSFET Gate Drive Circuits, By Laszlo Balogh

Drivers con referencia a tierra (lado bajo, low side)

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5. Drivers de interruptorDrivers de lado alto (high side) PMOS

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5. Drivers de interruptorDrivers de lado alto (high side) NMOS

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Need for Component Temperature Control 6. Control de T y radiadores

• All components, capacitors, inductors and transformers, and semiconductor devices  and circuits have maximum operating temperatures specified by manufacturermanufacturer.

• Component reliability decreases with increasing temperature.Semiconductor failure rate doubles for every 10 ‐ 15 C increase in temperature above 50 C (approx. rule‐of‐thumb).

• High component operating temperatures have undesirable effects on components.Capacitors Magnetic Components SemconductorsCapacitors

Electrolyte evaporation rate increases 

Magnetic Components

• Losses (at constant power input) increase above 100 

Semconductors

• Unequal power sharing in paralleled or seriesed 

significantly with temperature 

increases and thus 

C

• Winding insulation (lacquer or varnish) degrades above

devices.

• Reduction in breakdown voltage in some devicesshortens lifetime. or varnish) degrades above 

100 Cvoltage in some devices.

• Increase in leakage currents.

• Increase in switching times. Increase in switching times.

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6. Control de T y radiadoresEjemplo: Dependencia RDS,ON con T

Sim Pspice

100m

M1

Id

1080m

IRF150Vgs10

0

60m

0

40m

-80 -40 0 40 80 120 160 20020m

TEMP(V(M1:d)- V(M1:s))/ I(M1:d)

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6. Control de T y radiadoresEjemplo: Dependencia RDS,ON con T

Especificación fabricante (datasheet)Especificación fabricante (datasheet)

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Temperature Control Methods 6. Control de T y radiadores

• Control voltages across and current through components via good design practices.

•  Snubbers may be required for semiconductor devices.

F h li di d b d d ith ti t• Free‐wheeling diodes may be needed with magnetic components.

• Use components designed by manufacturers to maximize heat transfer via convection and radiation from component to ambient.

• Short heat flow paths from interior to component surface and large component  surface area.

• Component user has responsibility to properly mount temperature‐critical components on heat sinks.

• Apply recommended torque on mounting bolts and nuts and use thermalApply recommended torque on mounting bolts and nuts and use thermal grease  between component and heat sink.

• Properly design system layout and enclosure for adequate air flow so that heat i k t l t di i t h t t th bi tsinks can operate properly to dissipate heat to the ambient.

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Heat Conduction Thermal Resistance 6. Control de T y radiadores

• Generic geometry 

d

bg yof heat flow via conduction

Pcond

hheat flow direction

Temperature = T 1Temperature = T 2 T > T12

• Heat flow Pcond [W] =A (T2 ‐ T1) / d    =   (T2 ‐ T1) / Rcond

• Thermal resistance Rcond =   d / [ A]  

• Cross‐sectional area A = hb

• = Thermal conductivity  has units of W‐m‐1‐C‐1  (Al = 220 W‐m‐1‐C‐1 ).• Units of thermal resistance are C/W

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Thermal Equivalent Circuits 6. Control de T y radiadores

• Heat flow through a structure composed of layers of different

• Thermal equivalent circuit simplifies calculation of temperatures in variousof layers of different 

materials.temperatures in various 

parts  of structure.

Junction Case Sink AmbientChip T j

PRsacsR

jcR

jT cT sT aT++++

----

j

Case T c

Isolation pad

Heat sink T s • Ti = Pd (Rjc + Rcs + Rsa) + TaTi  Pd (Rjc + Rcs  + Rsa) + Ta• If there parallel heat flow paths, then thermal resistances of th ll l th bi

Ambient Temperature T

the  parallel paths combine as do  electrical resistors in parallel.

Ambient Temperature T a

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6. Control de T y radiadores

Ejemplos de especificacionesEjemplos de especificaciones

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