Metrohm

NIRSystems

근적외선 분광법 (Near Infra Red)

근적외선 분광법 (Near InfraRed Analysis)

근적외선 분광법 (Near InfraRed Analysis)의 특징

제품을 생산하고 연구하는 곳에서는 항상 제품의 품질관리를 실시하고, 입고되는 원료의 품질이나 진위여부를 판단합니다.

그러나 이런 관리들을 하기 위해서는 분석이 이루어져야 하는데 분석시간이 수 분에서 길게는 수 십분에 걸쳐 이루어져 빠른

대처가 이루어 지지 않습니다. NIR분석은 시료를 파괴하지 않고, 수 초에서 수십초 사이에 결과를 보여줌으로서 공정에 빠르

게 대처할 수 있는 솔루션을 제공합니다. 특히 제약이나 화학산업에서는 오랫동안 사용되어 왔습니다. 원료분석에 집중적으

로 사용되어져 왔지만 최근에는 최종 제품분석에도 사용되고 있으며 PAT(Process Analytica Technology)의 분광학적 분

석 방법으로도 각광을 받고 있습니다.

근적외선 분광 분석법은 근적외선 영역대의 파장을 시료에 조사하여, 시료 분자

들의 진동에 의한 에너지의 흡수 및 방출로 얻어지는 에너지 변화를 이용한 분석

법입니다.

ㆍ시료에 따른 분석시간의 선택 (수초~수십초)

빠른 분석시간으로 분석이 끝나면 결과를 바로 보여줌

ㆍ동시 다성분 분석

검량선이 완성된 후 1회 측정으로 여러 성분의 결과를 동시에 보여줌

ㆍ정량 및 정성분석

원료의 입고검사, 시료의 변질 유무, 함량분석

ㆍ몸에 해로운 시약이 필요 없음

ㆍ다양한 application에 적용

ㆍ최종 제품의 실시간 모니터링

전처리없이 시료준비 시료 측정 (결과 예)

400nm

NIR

Ultraviolet Visible Infrared

MIR FIR

2500nm 15000nm

측정 결과

OH 12.5%

NCO 15.3%

근적외선 분광분석기 Metrohm NIRSystems

Metrohm NIRSystems는 시료의 형태에 따라 측정 셀을 선택할 수 있는 조합형 시스템으로서 유지 관리가 쉽고, 사용이 편

리합니다.

Specification

측정모드

및 무게

Wavelength Range

Detectors

Data Acquisition Rate

Wavelength Precision

장비의 크기 (mm)

RCA

반사

31.2kg

400~2500nm

Silicon (400-1100 nm),

Lead Sulfide (1100-2500 nm)

< 0.005nm

457 x 381 x 572 457 x 381 x 572 457 x 445 x 812

< 0.008nm

2scans/sec

400~2500nm

Silicon (400-1100 nm),

Lead Sulfide (1100-2500 nm)

Multivial

반사

31.9kg

MasterLab

반사

32.4kg

투과

32.4kg

800~1650nm

InGaAs

Interactance

28.5kg

투과

28.5kg

RLA

투과

34.3kg

SmartProbe

반사

28.5kg

InteractanceOptiprobe

TransmissionOptiProbe

NIRSystems의 특징

ㆍ조합형 System

ㆍ고체, 액체, 반고체, 불투명 액체등 시료의

형태에 따라 측정셀 선택

ㆍ손쉬운 유지 관리

ㆍNIR장비의 유일한 소모품인 Lamp를

사용자가 쉽게 교체 가능

ㆍUSP와 Ph. Eur의 요구사항 (wavelength uncertainty, photometric linearity and

spectroscopic noise tests)의 충족

ㆍNIRSystems reference standards and regulatory compliance

ㆍ기기의 정상작동 유무를 파악하기 위하여 IPC

(Instrument Performance Certification)를 각 산업분야의 요청에

따라 NIST에서 검증한 표준물질을 가지고 실시

ㆍ쉽고 안정적인 프로그램

ㆍControl 프로그램인 Vision은 측정부터 검량선 작성까지 가능

ㆍ한번 측정으로 정량 및 정성 분석결과를 보여줌

근적외선 분광법 (Near InfraRed Analysis)의 활용

제약분야

Raw material inspection

ㆍ원료의 identification

ㆍ원료의 quality control

중간물질의 검사

ㆍDetermination of blend homogeneity

ㆍDetect the effects of granulation time

ㆍReal-time monitoring of drying process

제품의 품질 보증

ㆍDetermination of content uniformity

ㆍMoisture determination in lyophilized products without destroying

the sample vial

ㆍDetermination of active ingredients

ㆍCounterfeit drugs detection

화학분야

Moisture

Acid value

Hydroxyl number

Adhesive content

Antioxidants

UV inhibitor content

Cure, melt index

Melamine content

Alcohol detection

Residual solvent detection

Education and R&D

Moisture content

Coating thickness

Roller compaction

hardness

Blend uniformity

Granulation

Particle size

Prediction of dissolution

profile

Polymers

Raw material

ㆍHydroxyl number

ㆍAcid, amine value

ㆍIdentification of right materials (e.g., HDPE/LDPE)

Polymerisation monitoring

ㆍReaction endpoint determination

ㆍMoisture content determination

Determination of physical properties

Molecular wt. Particle size

Melting Point Density

Tacticity Viscosity

Degree of branching

Gasoline parameters

ㆍResearch octane (RON, ASTM D 2699)

ㆍMotor octane (MON, ASTM D 2700)

ㆍRoad octane number (RdON)

ㆍVolume percentage or mole percent of paraffins,

Isoparaffins, aromatics, naphthenes, and olefins; (PIANO)

Common diesel parameters

Specific gravity Pour point

Viscosity Cloud point

Flash point Cetane index

Cold filter plugging point (CFPP)

Petrochemicals

Metrohm NIRSystems XDS Analyzer

기본 본체 (Monochromator)에 시료의 형태에 따라 측정 셀을 결합시켜 사용하는 방식

1. XDS MasterLab Analyzer

매우 다양한 형태의 시료에 적용이 가능합니다.

ㆍPowders ㆍGranulates

ㆍSolid/film/paper ㆍ불투명 액체

ㆍTablet/capsule (reflection, transmission)

ㆍPaste/creams ㆍgel

4. XDS SmartProbe Analyzer, XDS Interactance OptiProbe Analyzer

3. XDS Rapid Liquid Analyzer ☞ DS2500 Analyzer

투과방식을 이용한 액상 전용 분석장비 (기본

65℃ 까지 온도 조절)

반사 및 투과반사 방식을 주로 사용하는 분석기

입니다. Petri dish 사용시 회전을 통하여 재현

성 있는 결과를 보여줍니다.ㆍGel / viscous liquids

ㆍClear liquidsㆍPowders ㆍGranulates

ㆍSolid/film/paper ㆍ불투명 액체

ㆍPaste/creams ㆍClear liquids

2. XDS Rapid content Analyzer

불규칙한 모양의 시료나

granulates 형태의 시료측정

(Reflectance)

ㆍPowders ㆍSolid/film/paper

ㆍTablet/capsule(reflection) ㆍ불투명 액체

ㆍPaste/creams ㆍgel

4. XDS SmartProbe Analyzer, XDS Interactance OptiProbe Analyzer

Probe type을 이용하여 시료를 특별한 용기에

담지 않고 바로 측정할 수 있습니다.

ㆍPowders ㆍfilm

ㆍ불투명 액체 ㆍPaste/creams

ㆍgel ㆍClear liquid

☞ DS2500 Analyzer

반사 및 투과반사 방식을 주로 사용하는 분석기

입니다. Petri dish 사용시 회전을 통하여 재현

성 있는 결과를 보여줍니다.

ㆍPowders ㆍGranulates

ㆍSolid/film/paper ㆍ불투명 액체

ㆍPaste/creams ㆍClear liquids

6. XDS Transmission OptiProbe Analyzer

빛을 주는 광원 케이블과 detector 역할을 하

는 케이블이 분리된 형태로서 투과방식을 이용

한 액상시료를 측정할 때 사용됩니다. 옵션으로

temperature controller 사용시 200℃까지

온도 조절이 됩니다.

ㆍGel / viscous liquids

ㆍClear liquids

5. XDS MultiVial Analyzer

vial에 시료를 담아 샘플러 방식으

로 활용이 가능하고, 반사 및 투과

반사 측정방식을 사용합니다.

ㆍPowders ㆍGranulates

ㆍSolid/film/paper ㆍTablet/capsule (reflection)

ㆍ불투명 액체 ㆍPaste/creams

ㆍgel

Metrohm Process Analyzer

NIRS XDS Process Analyzer

공정에 설치된 모습

환경이 좋지 않은 공정중에서 실시간으로 모니터링이 가능합니다.

방폭형 system으로 구성하여 설치할 수 있고, 시료의 형태나 특성

에 따라 측정 interface를 다르게 선택할 수 있으며, 측정 point도 1

개, 4개, 9개로 선택이 가능합니다. 그리고 Vision 프로그램으로 쉽

게 구동 할 수 있습니다.

Sample Type

Fiber distance from Analyzer

Cost per meter

Single Fiber

Clear Liquids

100-200 meters maximum

Inexpensive

Micro Bundle

Cloudy to turbid liquids

Up to 50 meters

More expensive

시료에 접촉이 불가능한 상황인

경우 (film등) Non-contact 모

델을 사용할 수 있습니다.

운영 프로그램

System requirement

NIRSystems 운영 프로그램 Vision은 스펙트럼 측정 및 검량선 작성까지 모두 할 수 있는 편리한 프로그램입니다. Standard

물질을 이용한 기기점검 뿐 아니라 자체 diagnosis를 통하여 안정된 system을 유지할 수 있습니다.

ㆍ검량선이 작성된 후 한번의 측정으로 정성 및 정량 결과가 얻어짐

ㆍPharmaceutical version은 21 CFR Part 11을 충족

ㆍ하나의 프로그램으로 Lab용, Atline용, Process용 기기를 모두 작동 가능

Processor

Hard Diskdrive Capacity

RAM

Video Graphics

CD-ROM

Mouse or Pointing Device

Printer Port

System Backup

Network Address

Network Connection

Computer Connection

Operating Software

Vision Multi-User Server

Operating Software

Pentium III or higher processor

20 Gbyte minimum

512 Mbyte

SVGA

Required

Required

Required for printing

Network or CD recommended

Address assigned by Network DHCP server. If DHCP not available, permanent address

assigned

10/100 Based T connection, Ethernet RJ-45 connection

UTP Crossover Cable for direct connections; standard network cable for network

connection, RJ-45 connection

Microsoft Windows 2000/XP/Vista/Win 7 (32 and 64-bit compatible for Vision 3.60

and higher), Microsoft 95/98/ME/NT 4.0 compatible

Microsoft Windows 2000-SP4 Server OS, Windows Server 2000, 2003, 2003R2, 2008,

2008R2

NIRSystems Applications

Process Analyzer Applications

Sample

type

Powders

Coarse solid,

granulates

Solid/film/paper

Tablet/Capsules

(reflection)

Tablet/Capsules

(Transmission)

Opaque liquids

Paste/cream

Viscous liquid/

Gel

Clear liquids

● 기본 시스템, ▲ transflectance 옵션, ● 65℃ 까지 온도 조절, ● 200℃까지 heating (온도컨트롤러 장착시)

● 기본 시스템, ▲ 시료에 맞는 fiber 선택

Sample type

Powders

Coarse solid, granulates

Solid/film/paper

Tablet/Capsules (reflection)

Tablet/Capsules (Transmission)

Opaque liquids

Paste/cream

Viscous liquid/Gel

Clear liquids

Rapid

Content

Single Fiber Micro Bundle DirectLight / NonContact

RapidContent

SolidMultiVial MasterLab

Rapid

Liquid

Smart

Probe

Interactance

OptiProbe

Transmission

OptiprobeDS2500

Lab, atline analyzer

Process analyzer

NIRSystems reference standards and regulatory compliance

USP and Ph. Eur의 충족

유지 관리 및 서비스 (Support)

기기의 정상작동 유무를 파악하기 위하여 IPC (Instrument

Performance Certification)를 각 산업분야의 요청에 따라

NIST에서 검증한 표준물질을 가지고 실시합니다.

Metrohm NIRSystems는 USP와 Ph. Eur의 요구사항들

(wavelength uncertainty, photometric linearity and

spectroscopic noise tests)을 제공합니다. 그에 맞는 프로

그램과 표준물질은 pharmaceutical package에 포함되어

있습니다.

저희 화신기계상사는 반세기 동안 Metrohm 장비 (Titrator, pH meter, KF,VA 등)를 국내에 단독으로 제공하였고 그만큼

많은 노하우와 네트워크를 보유하고 있습니다.

기존의 습식 분석 장비와 더불어 빠르고 편리한 분광학 장비인 NIRSystems를 Metrohm사를 통해서 공급하게 되었습니다.

습식분석에서 그동안의 많은 노하우를 가진 저희 화신기계상사에서 이처럼 NIR장비를 공급한다는 것은 매우 탄력적이고 통

합적인 서비스가 가능해졌다는 것을 의미합니다. 지금까지 그러 했듯이 다양한 Application이나 서비스, 기술적인 부분에 있

어서 궁금하신 내용이나 요청사항이 있으시면 언제든지 연락 부탁 드리겠습니다.

NIR 분광분석법은 빠르고 정확한 분석 solution을 찾으시는 고객님들의 욕구를 충분히 만족시켜 줄 수 있는 분석법입니다.

언제든 연락주시면 빠른 응대를 약속드리겠습니다.

귀사 실험실의 Total-Care 서비스를 약속드리며, 다시 한번 저희 화신기계상사를 믿어주시는 고객님들께 감사의 말씀을 드

립니다.

본 사 서울 강남구 논현로 81길 10(역삼동 738-24 화신빌딩) TEL. 02) 3450-5600 FAX. 02) 3450-5700 E-mail. sales@hwashin.net Homepage. http://www.hwashin.net

부산지사 TEL. 051) 244-4882 FAX. 051) 241-5841종로사무소 TEL. 02) 744-8600 FAX. 02) 743-6284원주사무소 TEL. 033) 744-5260 FAX. 033) 744-5262대전사무소 TEL. 042) 864-5281 FAX. 042) 864-5285대구사무소 TEL. 053) 625-7538 FAX. 053) 624-7538광주사무소 TEL. 062) 265-5144 FAX. 062) 265-5142울산사무소 TEL. 052) 277-0130 FAX. 052) 277-0139

Solutions for Analytical L

ab

ora

tory

47년 축적된 기술

력도

함께

드리

겠습

니다

.

Since 1967창의, 실천