Technical Note 解析1015 10-014 Technical Note 構造 解析 高分子...

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Technical Note構造解析

高分子

SAICAS(精密斜め切削装置)によるデプスプロファイル

概要SAICASにより超低角度の傾斜面を作成し、FT-IR分析によるデプスプロファイルを

高分解能でおこなう。

 測定例耐候劣化ポリマー(PP)の深さ方向における劣化挙動の確認

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